1楼:匿名用户
检测物品中各种元素含量的仪器。一般情况下从na到u都可以用它来进行检测,在元素含量从百万分之一到百分比的程度,都能测出来。
按原理可分为波长色散仪器和能量色散仪器。波长的比较贵,能量的便宜一些。
2楼:匿名用户
测试用的啊 做元素分析
3楼:匿名用户
可以检测环保rohs指令、玩具指令等指令与及无卤、重金属元素检测!
x射线荧光光谱仪的原理是什么?
4楼:匿名用户
x荧光光谱仪(xrf)由激发源(x射线管)和探测系统构成。x射线管产生入射x射线(一次x射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次x射线,并且不同的元素所放射出的二次x射线具有特定的能量特性或波长特性。
探测系统测量这些放射出来的二次x射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
近年来,x荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在rohs检测领域应用得最多也最广泛。 大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为be到u。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。
优缺点:
优点: a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
b) x射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软x射线范围内,这种效应更为显著。
波长变化用于化学位的测定 。 c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。
同一试样可反复多次测量,结果重现性好。 d) x射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。 e) 分析精密度高。
f) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。 缺点: a)难于作绝对分析,故定量分析需要标样。
b)对轻元素的灵敏度要低一些。 c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
5楼:匿名用户
就是测量得到物质所激发出的特征辐射的波长,根据莫塞莱定律,就可以确定出他的原子序数。所以,用于元素成分定性、定量分析。
你说的是老称呼,现在商品的仪器叫“x射线光电子能谱仪”。
x射线衍射仪与x射线荧光光谱仪的区别?
6楼:匿名用户
x射线衍射仪(xrd)是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。
x射线荧光光谱仪(xrf)是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的,可做定量或定性分析。
两种仪器构造与使用对象不同,xrd要复杂,xrf通常比较小。
7楼:霍晓纪
x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器,而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。
原子荧光光谱仪的基本原理,原子荧光光谱仪原理
1楼 玛丽 原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度,来确定待测元素含量的方法。 气态自由原子吸收特征波长辐射后,原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10 8s,又跃迁至基态或低能级,同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射,称为原子荧光。原子荧光分为共振荧...
原子荧光光谱法,原子发射光谱法和原子荧光光谱法的区别是什么
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哪些物质可以进行荧光分析,荧光光谱仪测定的条件是什么
1楼 原子荧光光谱的产生 气态自由原子吸收光源的特征辐射后,原子的外层电子跃迁到较高能级,然后又跃迁返回基态或较低能级,同时发射出与原激发波长相同或不同的发射即为原子荧光。原子荧光是光致发光,也是二次发光。当激发光源停止照射之后,再发射过程立即停止。 结构上和原子发射光谱仪差不多,只不过光路系统,发...