从x射线粉末衍射谱图能得到的材料的哪些特征

2020-11-24 07:19:48 字数 5883 阅读 7826

1楼:世代荣昌乐太平

指标化(indexing) 的含义了,其实类似的工作我以前做过,在测得xrd图谱后,对其各峰进行归属,即标名各xrd峰为(001),(110)等晶面,用jade软件或xrd仪器自带的软件就可以做到。

但是,文献中说通过指标化得到晶体的外形,是如何做到的,如sigmax 兄所说的,要通过计算,我知道 ms.reflex (能对模拟结构和实验数据进行实时的比较。包括粉末衍射指标化及结构精修等工具)能否做到?

即,不同的结晶条件得到不同形状的同种晶体,通过xrd测不同形状晶体的xrd谱,通过该xrd谱计算得到其形状

从x射线衍射图谱上能得到哪三方面的信息?他们分别有什么应用?谢谢

2楼:我是杜鹃

http://zhidao.baidu.***/question/122433124.html

http://zhidao.baidu.***/question/126659189.html

二、谱图的谱线强度(纵标);如果是**、感光底片的话,就是光斑的亮度。

影响衍射强度各因子的物理意义及其计算方法

衍射线的强度能反映晶体内微观结构信息,因此进行衍射强度分析的过程也是完成晶体结构判断的过程;衍射强度分析是衍射分析基本理论的重要组成部分。影响实际单相粉晶的某条衍射线强度的因素很多,其中可分为6大部分的影响因素:

第1部分是物理常数,不属于影响因素;

第2部分为实验参数,列为第1个影响因素的原子散射因子f与实验参数有关。

第3部分是与样品晶体结构有关的参数。其中多重性因子p和结构因子f(hkl)是第2个和第3个影响因素;

第4部分是与布拉格角(掠射角)θ有关的角因子,它由两个因子合并而成:偏振因子(或称为thomson因子)和洛伦兹(lorentz)因子 ;

第5部分是导致x射线强度衰减的吸收因子,它也是一个影响因素;

第6部分是为修正原子热振动影响的温度因子。

其中结构因子f(hkl)最感兴趣:

f(hkl)由晶格结构决定,即由晶胞中原子的种类和原子位置分布决定。通常fj表原子的原子散射因子,用xj、yj、zj表原子j的位置。fj的物理意义是j原子的相对于一个电子的散射波振幅之比,可按公式计算。

结构因子是决定衍射强度的主要因素,它的计算方法一般为先假设晶胞中原子的可能坐标(xyz)然后进行结构振幅或衍射强度的计算,将计算结果与实测数据进行比较,若两者吻合并且还能得到其它实验如nmr、ir的旁证,则说明所假设结构正确;否则需修正假设,再计算,再比较,直至逼近吻合。这就是通过结构因子推求晶体结构的主要途径。f(hkl)有各种表达式。

这里面的理论知识很多,也是x射线衍射分析的高级研究内容,这里不能赘述。

三、所有横标纵标信息、强度信息、谱线分布谱线组合全体搭配信息,通俗地讲就是衍射花样,是xrd的重要信息,从中可能也可以导向对谱图进行解析、归属谱线到晶面、推导出晶体的晶系晶型等等!

粉末x-射线衍射图如何看懂?有没有这方面的资料?谢谢

3楼:我是杜鹃

我的许多回答都和你的问题有关,可以去看看:

http://zhidao.baidu.***/question/211197705.html,

如何分析x射线粉末衍射图谱和数据?:http://zhidao.

baidu.***/question/126659189.html?

fr=qrl&cid=984&index=3&fr2=query;

如何分析x射线粉末衍射图谱和数据?:http://zhidao.

baidu.***/question/126659189.html?

fr=qrl&cid=984&index=3&fr2=query;

运用xrd分析结果进行晶相鉴定:http://zhidao.baidu.***/question/123478742;

x射线衍射的原理及其可以解决的问题(应用):http://zhidao.baidu.***/question/122264851;

一、谱图横坐标2θ,从而知道掠射角θ(入射角的余角,又称为布拉格角)。然后就可以求得谱线对应的晶面-晶面间距d值;最后可获得晶体的长宽高几何尺寸。

http://zhidao.baidu.***/question/156881338.html

http://zhidao.baidu.***/question/122433124.html

http://zhidao.baidu.***/question/126659189.html

二、谱图的谱线强度(纵标);如果是**、感光底片的话,就是光斑的亮度。

影响衍射强度各因子的物理意义及其计算方法

衍射线的强度能反映晶体内微观结构信息,因此进行衍射强度分析的过程也是完成晶体结构判断的过程;衍射强度分析是衍射分析基本理论的重要组成部分。

三、所有横标、纵标信息、强度信息、谱线分布、谱线组合、全体搭配信息,通俗地讲就是衍射花样,是xrd的重要信息,从中可能、也可以导向对谱图进行解析、归属谱线到晶面、推导出晶体的晶系晶型等等!

如何通过粉末x射线衍射谱获取晶体的结构信息? 15

4楼:我是杜鹃

利用 x射线粉末衍射图谱和数据,通过解析谱图可以获得样品的定性结论:是不是该物质,通过查阅相同标准物质的标准x射线衍射谱图资料,可以获得该物质晶体的晶体学参数:晶系(sys.

),空间群(s. g. ,前面列出国际符号,后面列出熊夫利符号),晶胞数据(a0,b0,c0),轴率(a= a0/b0,c= c0/b0),轴角α、β、γ。

单位晶胞内分子数(z),单位晶胞体积(v),ref (该区数据参考文献);

通过解析谱图还能得出该物质光学及其它物性数据:折射率(ε或ω分别为四方、三方、六方晶系平行于或垂直于光轴的折射率,α、β、γ分别是三斜、单斜、正交晶系的三个主折射率),光学符号(sign),光轴角(zv),d密度,dx基于xrd谱法测试得到的密度,熔点(mp),颜色(color)等。

经过严格的谱线解析与计算,可以定量分析得出被鉴定晶体物质的含量比例纯度等;

上述3个应用是针对物质是化合物单质或纯净物或合金共熔物等的。其实也可以运用到针对某一晶相:单一晶相的定性分析;单一晶相的定量分析;也可以解析出被鉴定物的结晶度;等......。

还可以运用于不同晶相的混合物的定性分析、甚至定量分析。

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我对下面一个类似的问题的回答,其中如何利用xrd谱测试数据部分可供你参考:

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怎样根据x射线衍射图测算其相数

我们前几天做了产品的x射线衍射图,但没有α、β相的值。还有能不能告诉我这些英文在x射线衍射图中怎样表示。

scan:3.0/85.0/0.02/0.15(sec),cu(40kv,30ma),i(cps)=339,

peak:21-pts/parabolic filter,threshold=3.0,cutoff=0.1%,bg=3/1.0,peak-top=summit

note:intensity=cps,2t(0)=0.0(deg),wavelength to ***pute d-spacing=1.54056(cu/k-alpha1)

问题补充:根据这些数据是不是能够进行测算呢,有没有什么具体的公式呢??这些英文表示什么呢??急!急!

2-theta d() bg height height% area area% fwhm xs()

13.583 6.5135 8 110 33.0 26.8 38.2 0.207 639

19.136 4.6342 4 24 7.2 5.4 7.7 0.191 689

20.160 4.4010 5 39 11.7 9.9 14.1 0.216 514

20.741 4.2791 4 142 42.6 34.4 49.0 0.206 560

23.099 3.8472 4 65 19.5 17.7 25.3 0.232 441

23.558 3.7733 5 115 34.5 26.7 38.0 0.197 586

26.641 3.3432 7 79 23.7 21.5 30.7 0.232 431

27.238 3.2714 6 333 100.0 70.1 100.0 0.179 678

31.159 2.8680 5 143 42.9 36.0 51.4 0.214 474

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关于“怎样根据x射线衍射图测算其相数”我的回答如下:

scan:3.0/85.0/0.02/0.15(sec),cu(40kv,30ma),i(cps)=339,

扫描:从3.0度/到85.

0度/步长0.02度/用时0.15(sec),x射线cu(40kv,30ma),i(cps)=339,最强峰强i1=339(每秒计数counts per sec)

peak:21-pts/parabolic 峰数:21个/抛物线型

filter,threshold=3.0,cutoff=0.1%,bg=3/1.0,peak-top=summit 滤波,阈值=3.0,截止限=0.1%,峰顶=峰顶点

note:intensity=cps,2t(0)=0.0(deg),wavelength to ***pute d-spacing=1.

54056(cu/k-alpha1) 注:强度=每秒计数,2t(0)=0.0(deg度),用于计算晶格间距d的波长=1.

54056(cu/k-alpha1铜靶/k-alpha 1线)

布拉格定律公式:

2d sin θ = nλ,式中,λ为x射线的波长,λ=1.54056,衍射的级数n为任何正整数,这里一般取一级衍射峰,n=1。

当x射线以掠角θ(入射角的余角,又称为布拉格角)入射到你的晶体或部分晶体样品的某一具有d点阵平面间距的原子面上时,就能满足布拉格方程,从而测得了这组x射线粉末衍射图(资料)。

你计算时,注意:

第一列数据,是2θ 角,要除以2才是用到公式中的θ 。

第二列数据,的d,单位是,

第三列数据,bg,可能是背景缩写;

第四列数据,峰高,计数值;

第五列数据,相对峰高(%),是把最强峰作为归一标准的相对强度值;

第六列数据,峰面积;

第七列数据,相对峰面积(%);

第八列数据,fwhm-full width at half maximum (脉冲)峰半高宽;一般用于计算的峰强度使用高度就可以了,这是把峰都看成是常规峰。但这一项 fwhm 可以给出特异峰信息,在解析时会带来特殊意义。

第九列数据,xs(),xs是晶粒度()。

α、β相的值,要靠解析谱图、再借助查找pdf(《粉末衍射卡片集》)卡片上的标准值进行核对、鉴定、计算去获得。参考资料:http:

//zhidao.baidu.***/question/122433124.

html 。

这是一般的应用:即作出xrd谱,以xrd谱数据为途径,查找pdf卡片或数据库资料的索引,目的是查找到那一张或那几张和你的物质相同的人家经过提纯、精制的晶体样品所测试得到的所谓标准x射线衍射数据卡片或数据库资料,找到后,核对无误,那么那张卡片资料上所列的所有的晶体学参数、光学及其它物性数据等都可以被采信采用了。如果你的样品是前无古人、开创性的工作,你花大力气提纯精制、测试xrd谱、把数据发表就是一项伟大的工作,可被其他人引用参考了。