1楼:芥末留学
x射线荧光分析法
抄的特点与适袭应范围是
(1)适应bai范围广
除了h,duhe,li,be外,可对周期表中从5b到92u作元素zhi
的常量、微dao量的定性和定量分析。
(2)操作快速方便
在短时间内可同时完成多种元素的分析。
(3)不受试样形状和大小的限制,不破坏试样,分析的试样应该均匀。
(4)灵敏度偏低
一般只能分析含量大于0.01%的元素。
x射线荧光光谱仪测试时对样品是否有要求
2楼:匿名用户
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大。因为xrf光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定(比如第一层高分子都是10微米厚)。这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用x荧光光谱仪测量还是有问题,因为x荧光透过不同物质有无限厚(某元素的x荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收)的问题。
这样误差看你每层的厚度了,如果每层都很薄,比如几个微米那么影响会较小。如果每一层达到几十比如50微米以上,那么影响就会较大。
晶体成分没什么,只要是均匀分布就可以,因为即便有分光等现象,也是等概率的,因为是均匀分布。
3楼:匿名用户
仪器的工作原理和测试标准决定,x荧光光谱仪对于被测样品的实质要求并没有什么局限,或许这样理解比较好,如果为样品材质较均匀,检测的精度有可能更好!
同时,因为仪器本身的一些特性决定,轻质元素是比较难测出来的,同时还有干扰等问题的影响,所以,归总问题应该是您们要测哪些元素,这样的话,可根据实际待测元素来判定影响和误差值,进而改善!
x射线荧光光谱仪的原理是什么?
4楼:匿名用户
x荧光光谱仪(xrf)由激发源(x射线管)和探测系统构成。x射线管产生入射x射线(一次x射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次x射线,并且不同的元素所放射出的二次x射线具有特定的能量特性或波长特性。
探测系统测量这些放射出来的二次x射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
近年来,x荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在rohs检测领域应用得最多也最广泛。 大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为be到u。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。
优缺点:
优点: a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
b) x射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软x射线范围内,这种效应更为显著。
波长变化用于化学位的测定 。 c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。
同一试样可反复多次测量,结果重现性好。 d) x射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。 e) 分析精密度高。
f) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。 缺点: a)难于作绝对分析,故定量分析需要标样。
b)对轻元素的灵敏度要低一些。 c)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。
5楼:匿名用户
就是测量得到物质所激发出的特征辐射的波长,根据莫塞莱定律,就可以确定出他的原子序数。所以,用于元素成分定性、定量分析。
你说的是老称呼,现在商品的仪器叫“x射线光电子能谱仪”。